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工程与服务

某废弃物填埋场调查解决方案

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一、方案简述

调查目的

本次调查目的主要是针对场区将采用地球物理探测的高密度电法(Electrical Resistivity Tomography)进行探测。以探测场区废弃分子筛的填埋分布范围及填埋体积。

二、项目简介

1.调查目的

受委托,本次调查目的主要为针对场区进行地球物理探测,以探测场区废弃分子筛的填埋分布范围及填埋体积。

2.调查方法

采用地球物理探测的高密度电法(Electrical Resistivity Tomography)进行探测。(由于分子筛回填物电阻率一般较高,在地下介质中与周围的地下水形成明显的电性差别。利用这一特性,非侵入式的高密度电阻率法( ERT) 在探测废弃物填埋场址中的范围及深度展现出一定优势。)

三、现场方案

1.仪器设备

调查选用GD-20多通道工作站进行高密度电法测量,测点位置信息采用RTK进行收集。

2.测线方案

合理布设测线可以保证取得高品质数据,本次调查区面积总计26000m2,对测区进行区域网格布线,网格间距20~30m,共铺设18条ERT测线。

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四、电法工作原理

电阻率法是以介质电阻率差异为基础的一种物探方法。 为利用直流电经由一对电流极 A、B 将电通入地下,建立人工电场。通过地层间介质不同,其导电性的差异,可利用另一对电位极 M、N 测量电场在 M、N 之间造成的电位差,由此求出地层视电阻率,进而估算地下地层的导电性分布。

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五、结果展示

A区结果展示

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本场判断依据主要是浅层土壤扰动分布与极高阻异常分布。由电阻率介质特征可知,整体电性剖面主要分为两层,电阻率分布为随着深度加深电阻率变小的趋势。推测主要分子筛异常在测线呈现为红色系部分。

场内主要物性从上至下为地表回填及原图层。表层回填分布在全区,废弃分子筛为凌乱掩埋在回填土内,电阻率形貌为碗状堆积,埋深都很浅,平均埋深约1米内。

B区结果展示

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ERT3推测掩埋位置落在测线65-76米间,埋深约1米。ERT-7 并无明显碗状堆积,推测此区域高阻应为碎石与建筑废料所造成结果。 ERT-8 水平位置11-40米、42-50米及52-54米间,出现的相对高阻异常,电阻率形貌为碗状堆积 ,推测很有可能为分子筛的填埋区,平均埋深约0.5-1米。

场内主要物性从上至下为地表回填及原土层。表层回填分布在全区,废弃分子筛为凌乱掩埋在回填土内,电阻率形貌为碗状堆积,埋深都很浅,平均埋深约0.8米内

C区成果展示

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等深度切面成果图可以很清楚描绘出场区异常区,以虚线所示,此异常相对高阻区域随着深度变化而变小,推测此异常可能混杂着高阻材料造成电阻率略高于背景值。

场内主要物性从上至下为地表回填及原图层,表层回填分布在全区,废弃分子筛为凌乱掩埋在回填土内,电阻率形貌为碗状堆积,埋深都很浅,平均埋深约0.8米内。

全场投影图结果展示

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整体评估该场分子筛分布凌乱,并非统一填埋,同时结合电阻影像剖面法成果显示。埋深都很浅,平均埋深约0.8-1米内。

从物性层面的厚度特征来看,场内主要物性从上至下为地表回填及原图层。表层回填分布在全区,废弃分子筛为凌乱掩埋在回填土内,电阻率形貌为碗状堆积,埋深都很浅,平均埋深约1米内。

结合3D成果图推估全场的废弃分子筛回填物埋设面积约734平方米,体积约472立方米。

六、地球物理方法的优势

地球物理方法是无损的,非破坏性的调查方式 

相对传统地质取样的调查手段,地球物理是对地底下的填埋物和地层构造做量测,除了不须钻特点之外,还能透过大范围的量测得到连续性的剖面数据 

调查污染场地,无钻孔揭露,防止污染的进一步扩散,环保,无二次污染。 

测深深度大、精度高,不仅能定性的圈定场地的污染区域且能划分场地的地层结构及判断场地的地下水深度及流向