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通过使用GD-10高密度电法仪，对近有600多年建立历史的北京五塔寺的地基情况进行调查，主要采用二维高密度电阻率剖面测试方法，对塔的周围地表的剖面进行测试。由于高密度勘探深度相对较浅，但分辨率较高，观察电阻率的变化界面即可探测基底界面、基底深度。在使用温纳α装置测得的散点图和拟合度信息反演出具体的测试深度的具体信息。最后，得出在1.5m深度左右有一个明显的高低阻分界线，高阻能认为是塔的基底，低阻为第四系。因而，完成了对整个寺庙地基的深度信息的探测。
巧妙精准布线：本次测试共布有6条高密度电缆线作为测试，6条基线的所有贯穿整个庙宇的四周。测试的电极则是利用物质水的导电性能，无需打孔。
测试结果分析：本次数据使用res2dinv反演软件处理
由上图显示，在被测的剖面上，地质结构分布非常清楚，在图的顶部橙红色区域（可见具体的图例）是一层高阻物质，可以初步判定这一层为五塔寺的地基，通过进一步测试分析得出具体的地基深度。
此图显示，在被测的剖面上，地质结构分布非常清楚，在图的顶部橙红色区域（可见具体的图例）是一层高阻物质，可以初步判定这一层为五塔寺的地基，通过进一步测试分析得出具体的地基深度。
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